详细介绍

产品简介
PantheraTEC为半导体和其他材料的检测和分析提供了很高的价值,特别是在质量控制和技术教育方面。明场、暗场和简易偏光以及新的LED分段照明相结合,这一概念允许倾斜入射照明角度,非常适合检测平面和反射表面上的划痕或其他缺陷,而无需移动样品。
PantheraTEC具有出色的成像性能,安装在5孔编码转换器上的每个目标镜头的光强能够自动记忆。


规格说明

总放大倍数

50X-500X(选购100X,最高放大倍率1000X)

目镜

UC-WF 10X/22,屈光度可调 +/-5

物镜

Plan Achromat BF/BD 5X/10X/20X Plan S-APO BF/BD 50X

Plan S-APO BF/BD 100X(选购)

观察筒

铰链三目观察筒,25°倾斜角, 360°旋转,分光比50/50

双目镜筒瞳距

48-75mm

样品最大厚度

35mm

物镜转换器

五孔编码转换器,BFBD可选

粗微调焦装置

粗、微调同轴调焦,微调:0.2mm/转 上限位,松紧调节环

机械移动载物台

3X2"机械载物台,尺寸180(W) X 140(D)mm

行程75(X) X 50(Y)mm,6X4"载物台可选

照明

LED照明

扩展功能

偏光观察、透反射机型

其它

照明亮度追踪,睡眠待机模式,LED亮度指示功能,BD机型智能分段环形照明


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